美国开发出检测纳米材料磁性特征新方法

美国开发出检测纳米材料磁性特征新方法 美国仁斯里尔工业学院2008年12月8日宣布，四会研究人员成功地将直径为1nm至10nm的钴纳米结构团镶嵌于多层碳纳米管中，开发出了一种检测纳米材料磁性特征的新方法。 在经过一系列实验之后，研究人员*终确定，他们获得的由钴纳米材料和碳纳米管组成的转盘轴承混合结构具有足够的导电性灵敏度，可用来探测钴纳米结构这样微小的磁性材料的磁行为。据悉，这是研究人员*展示利用独立的碳纳米管实现探测微小磁性材料磁场的技术。相关报道刊登在新出版的《纳米快报》上。 “由于在我们聚焦透镜的混合材料中，钴纳米结构团是镶嵌在碳纳米管中而不是在其表面上，因此它们不会引起电子散射，从而不会影响碳纳米管宿主的传导特性。”仁斯里尔工业学院物理、应用物理和天文系助理教授兼研究带头人斯瓦斯迪克&#路面机械8226;卡尔表示，“从根本上讲，这种混合纳米结构属于一类新的磁性材料。” 同系副教授萨偌吉•纳亚克认为，这种新的混合纳米结构不仅为基础和应用物理研究开创了新方法，而且还有望帮助人们利用磁性自由度，为增加碳纳米管电学功能铺平道路。该混合结构的潜在应用包括新型纳米级导电传感器、新的电子存储器件、白旋电子器件和人体定向药物微型输送器组件等。